HOME > Presentation > Detail放射光軟X線顕微分光で探るグラフェンの異種接合界面電子状態(Interface Physics in Graphene ~Spectromicroscopy Approach~)永村 直佳. 第7回表面科学若手研究会. 2016-12-02. InvitedNIMS author(s)NAGAMURA, NaokaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:32:52 +0900Updated at: 2024-03-05 11:46:31 +0900