HOME > Presentation > Detail直交配置型FIB-SEMによるシリアルセクショニング観察技術と応用原 徹. 電子顕微鏡解析技術フォーラム. 2015-01-16. InvitedNIMS author(s)HARA, ToruFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:33:11 +0900Updated at: 2024-03-05 11:45:29 +0900