HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Reliable Raman Spectroscopic Measurement of a C60 Thin Film(C60薄膜の信頼性のあるラマン分光測定)KONNO, Toshio, WAKAHARA, Takatsugu, MIYAZAWA, Kunichi. 第25回日本MRS年次大会. 2015.NIMS著者若原 孝次Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:06:49 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:12:11 +0900
