HOME > Presentation > DetailAE計測および熱応力解析によるSPS成膜中のき裂発生機構の評価米田直晃, 伊藤 海太, 榎 学, シャオロン チェン, 荒木 弘, 黒田 聖治. 日本金属学会 2016年春季大会. March 23, 2016-March 25, 2016.NIMS author(s)ITO, KaitaXIAOLONG, ChenFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:32:50 +0900Updated at: 2017-07-10 22:24:09 +0900