In-situ TEM Observations of Nucleation and Growth of W-nanowires on SiO2 Substrates in an Electron-beam-induced Deposition Process
Microscopy and Microanalysis 2006. 2006年07月30日-2006年08月03日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 11:51:53 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:51:53 +0900