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SEMの像観察用検出器を用いたGaN材料のカソードルミ

関口 隆史, 渡辺 健太郎, 熊谷 和博, 片根 純一, 小室 浩之, 平島 智康, 坂上 万里, 伊東 祐博.
日本顕微鏡学会 第69回学術講演会 . 2013.

NIMS author(s)

    Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)

      Created at: 2017-02-14 11:24:28 +0900Updated at: 2017-07-10 21:35:16 +0900

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