HOME > Presentation > Detail
走査プローブ顕微鏡をベースにした半導体ナノ構造の物性研究
(Study of semiconductor nanostructures using SPM-based optical spectroscopy)
第13回シリサイド系半導体研究会. 2009-04-03. Invited
NIMS author(s)
Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)
Created at: 2017-01-08 05:45:02 +0900Updated at: 2024-03-05 11:42:35 +0900