SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

光検出走査型トンネル顕微鏡による評価手法の開発
(Nanoscale characterization using photon-detecting STM)

日本物理学会 第66回年次大会. 2011. 招待講演

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-01-08 04:44:09 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:43:22 +0900

    ▲ページトップへ移動