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温度誘起価数転移を示す Eu(Rh1–xIrx)2Si2 の硬 X 線光電子分光
(Hard X-ray photoemission study of the temperature-induced valence transition system Eu(Rh1–xIrx)2Si2)

市木勝也, 三村功次郎, 安斎太陽, 魚住孝幸, 佐藤仁, A. Rousuli, 上田 茂典, 光田暁弘, 藤本巧, 喜舎場英吾, 和田祐文, 田口幸広, 島田賢也, 生天目博文, 谷口雅樹.
日本物理学会2015年秋季大会. September 16, 2015-September 19, 2015.

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Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)

    Created at: 2017-01-08 03:31:04 +0900 Updated at: 2017-07-10 22:12:54 +0900

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