HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Probing nano-scale structures in Ar-ion irradiated c-Si by small angle x-ray scattering)コッポジ スレッシュ, 大沼 正人, 大場 洋次郎, 岸本 直樹, Das, Chini. NIMS-UCSB 2nd Annual Workshop. 2010.NIMS著者岸本 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:49:53 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:57:36 +0900