Development of scanning probe microscopy for in situ analysis with externally applied stress-strain field in UHV
(超高真空応力場その場表面観察のための 走査型プローブ顕微鏡の開発と応用)
日本顕微鏡学会第54回シンポジウム. 2010. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:22:15 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:43:13 +0900