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アトムプローブ法による単一Ge/Si/Geダブルコアシェルナノワイヤ中の元素分布
(Elemental Distributions in Individual Ge/Si/Ge Core-Double Shell Nanowires Investigated by Atom Probe Tomography)

Bin Han, 清水康雄, ヨ メイカ, ジェバスワン ウイパコーン, 深田 直樹, 井上耕治, 永井康介.
秋季第75回応用物理学会学術講演会. 2015.

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Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)


    Created at :2017-01-08 03:21:45 +0900 Updated at :2017-07-10 22:20:07 +0900

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