Bond Valence Sumを活用したイオン伝導体の高速スクリーニング
(Materials Screening for Superionic Conductors using Bond Valence Sum Maps)
日本金属学会2017年春期講演大会. 2017.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-05-10 22:56:02 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:08:35 +0900