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Bond Valence Sumを活用したイオン伝導体の高速スクリーニング
(Materials Screening for Superionic Conductors using Bond Valence Sum Maps)
日本金属学会2017年春期講演大会. 2017.
NIMS author(s)
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Created at: 2017-05-10 22:56:02 +0900Updated at: 2018-06-05 14:08:35 +0900