HOME > 口頭発表 > 書誌詳細走査型オージェ電子顕微鏡を使った2次電子利得の絶対計測；Au,Ag,Cu後藤啓典, 井上雅彦, 田沼 繁夫, 山内幸彦. 第38回表面分析研究会. 2012.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:46:59 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:18:04 +0900
