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著者名SANG, Liwen, 任 兵, LIAO, Meiyong, KOIDE, Yasuo, SUMIYA, Masatomo.
タイトルInvestigation on the trap states at p-GaN MO(I)S interface with different gate dielectric layers
会議名応用物理学会
発表年2018
言語English
外部での文献参照

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