HOME > Presentation > DetailGaAsBiナノワイヤの分析(TEM-EDS analysis of GaAsBi)石川 史太郎, 赤松 良彦, 渡辺 健太郎, 上杉 文彦, 朝比奈 俊輔, Uwe Jahn, 下村 哲. 平成28年度ナノテクノロジープラットフォーム総会. 2016.NIMS author(s)UESUGI, FumihikoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at :2017-02-14 11:04:53 +0900 Updated at :2017-07-10 22:31:38 +0900