HOME > Presentation > DetailX線光電子分光によるイメージング~放射光軟X線を活用したデバイス構造の顕微オペランド分析~(X-ray photoelectron spectroscopy imaging ~operando spectromicroscopy analysis in device structures using synchrotron soft X rays)永村 直佳. 2022年第69回応用物理学会春季学術講演会. March 22, 2022-March 26, 2022. InvitedNIMS author(s)NAGAMURA, NaokaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2022-04-12 03:25:28 +0900Updated at: 2024-03-05 12:21:55 +0900