HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Al,Sc)N 薄膜中に含まれる不純物酸素の光電子分光評価(X-ray photoelectron spectroscopy analyses of oxygen impurities in (Al,Sc)N films)長谷川 浩太, 大澤 健男, 清水 荘雄, 坂口 勲, 大橋 直樹. 第42回電子材料研究討論会. 2022年11月10日-2022年11月11日.NIMS著者大澤 健男清水 荘雄坂口 勲大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2023-01-05 12:15:42 +0900更新時刻: 2023-01-05 12:15:42 +0900