HOME > Presentation > Detail(Al,Sc)N 薄膜中に含まれる不純物酸素の光電子分光評価(X-ray photoelectron spectroscopy analyses of oxygen impurities in (Al,Sc)N films)長谷川 浩太, 大澤 健男, 清水 荘雄, 坂口 勲, 大橋 直樹. 第42回電子材料研究討論会. November 10, 2022-November 11, 2022.NIMS author(s)OHSAWA, TakeoSHIMIZU, TakaoSAKAGUCHI, IsaoOHASHI, NaokiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2023-01-05 12:15:42 +0900 Updated at: 2023-01-05 12:15:42 +0900