HOME > Presentation > DetailSEM/CLを用いたHVPE-GaN厚膜中のピット型欠陥李 雄, 渡辺 健太郎, 熊谷 和博, 関口 隆史. 日本顕微鏡学会. 2012.NIMS author(s)Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:54:30 +0900Updated at: 2017-07-10 21:21:29 +0900