HOME > 口頭発表 > 書誌詳細SEM/CLを用いたHVPE-GaN厚膜中のピット型欠陥李 雄, 渡辺 健太郎, 熊谷 和博, 関口 隆史. 日本顕微鏡学会. 2012.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:54:30 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:21:29 +0900
