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Probe-EBIC法によるSi(111)基板上BaSi2薄膜の接合・結晶粒評価
(Characterization of junctions and grains in BaSi2 thin film grown on Si(111) substrate by probe-EBIC technique)

渡辺 健太郎, 馬場 正和, 関口 隆史, 山根 久典, 末益 崇.
2013年春季<第60回>応用物理学会. 2013.

NIMS著者


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      作成時刻 :2017-02-14 11:20:47 +0900 更新時刻 :2018-06-05 13:18:13 +0900

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