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(Oxygen migration at Pt or Cu/HfO2 interface under bias operation: oxide based ReRAM application)

長田 貴弘, 南風盛 将光, 山下 良之, 吉川 英樹, 小林 啓介, 岩下 祐太, 知京 豊裕.
2011 Materials Research Society Spring Meeting and Exhibit. 2011.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-02-14 11:00:26 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:03:54 +0900

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