走査型トンネル顕微鏡誘起発光法によるナノスケール評価手法の開発
(Nanoscale characterization using a technique of STM-induced light emission)
日本物理学会 2011年秋季大会. 2011. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:41:37 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:43:35 +0900