HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Probing nano-scale structures in Ar-ion irradiated c-Si by small angle x-ray scattering)コッポジ スレッシュ, KOPPOJUSuresh, 大沼 正人, 大場 洋次郎, 岸本 直樹, Das, Chini. 20th MRS-Japan Academic Symposium. 2010.NIMS著者岸本 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:20:19 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:57:36 +0900