HOME > Presentation > DetailAlxGa1-xN系薄膜の放射光軟X線顕微光電子分光法による非破壊電子状態分析(Non-destructive spectral analysis of AlxGa1-xN filmsby synchrotron soft X-ray photoelectron spectromicroscopy)竹澤伸吾, 小濱路生, 張文雄, 吹留博一, 渡邊一世, 井村 将隆, 津田 俊輔, 小嗣真人, 永村 直佳. 2022年第69回応用物理学会春季学術講演会. 2022.NIMS author(s)IMURA, MasatakaTSUDA, ShunsukeNAGAMURA, NaokaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at :2022-04-12 03:25:25 +0900 Updated at :2022-04-12 03:25:25 +0900