HOME > Presentation > Detail酸化亜鉛中の点欠陥の評価(Characterization of point defects in ZnO)大橋 直樹, 坂口 勲, 安達 裕, 両見 春樹, 大澤 健男, 上田 茂典, 吉川 英樹, 羽田 肇, 小林 啓介. 平成19年度金研ワークショップ 「酸化亜鉛半導体テクノロジーの進歩. December 20, 2007-December 21, 2007. InvitedNIMS author(s)OHASHI, NaokiSAKAGUCHI, IsaoADACHI, YutakaOHSAWA, TakeoUEDA, ShigenoriYOSHIKAWA, HidekiHANEDA, HajimeFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 05:17:48 +0900Updated at: 2024-03-05 11:41:44 +0900