Characterization of xenon nanoprecipitates embedded in aluminium crystals by means of 3-D TEM
The 9th asia-pacific Microscopy Conference (APMC9). 2008年11月02日-2008年11月07日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 12:06:19 +0900 更新時刻: 2022-09-05 12:06:19 +0900