HOME > Presentation > Detail2探針STMによる電気測定:単一ナノワイヤの局所構造変化と電気抵抗変化(Electrical measurements by double-probe STM: Local modulation of structure and resistance in a single nanowire)久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 青野 正和. 第66回応用物理学会学術講演会. 2005.NIMS author(s)SHINGAYA, YoshitakaNAKAYAMA, TomonobuAONO, MasakazuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 04:33:36 +0900Updated at: 2017-07-10 19:26:26 +0900