HOME > Presentation > Detailカソードルミネッセンスによるm面GaNの積層欠陥に関する評価(Cathodoluminescence study on the stacking faults of m-plane GaN)イ ウェイ, 陳 君, 関口 隆史, 伊藤俊. 第65回応用物理学会春季学術講演会. 2018.NIMS author(s)YI, WeiCHEN, JunFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2018-03-15 22:37:43 +0900Updated at: 2018-06-05 14:19:03 +0900