SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細


(Application of hard x-ray standing waves to an interface structural analysis of ultrathin NiO nanostripes on a sapphire single crystal)

坂田 修身, 今井康彦, 松田晃史, 吉本護.
STAC-6. 2012.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2017-01-08 03:49:39 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:21:15 +0900

      ▲ページトップへ移動