HOME > Presentation > DetailAlをドープしたβ-Ga2O3結晶の粉末X線回折による構造精密化(Structure refinement of Al doped beta-Ga2O3 by synchrotron X-ray powder diffraction)田中 雅彦, 勝矢良雄. 日本結晶学会2007年度年会. 2007.NIMS author(s)TANAKA, MasahikoFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:42:56 +0900Updated at: 2017-07-10 20:05:39 +0900