HOME > Presentation > DetailBIC自動ピークフィッティング技術を用いたXPSデータセットのハイスループット解析手法(High Throughput Analysis Method for XPS Data Sets Using BIC Auto Peak Fitting Technique.)永田 賢二, 角谷 正友, 田沼 繁夫, 篠塚 寛志, 登坂 弘明, 原田 善之, 松波 成行, 吉川 英樹, 庄野逸, 村上諒. 2020年度 実用表面分析講演会 Symposium on Practical Surface Analysis 2020 (PSA-20). 2020.NIMS author(s)NAGATA, KenjiSUMIYA, MasatomoSHINOTSUKA, HiroshiYOSHIKAWA, HidekiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2020-12-23 03:00:22 +0900Updated at: 2020-12-23 03:00:22 +0900