HOME > Presentation > Detail電子分光シミュレータを活用したXPS基底関数の抽出と試料構造推定米田駿一, 村上 諒, 永田 賢二, 篠塚 寛志, 吉川 英樹, 田中博美, 田沼 繁夫. 第71回応用物理学会春季学術講演会. March 22, 2024-March 25, 2024.NIMS author(s)MURAKAMI, RyoNAGATA, KenjiSHINOTSUKA, HiroshiYOSHIKAWA, HidekiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2024-11-30 03:17:44 +0900Updated at: 2024-11-30 03:17:44 +0900