走査型トンネル顕微鏡を用いた単一半導体ナノ構造の物性研究
(Study of optical and electronic properties of individual semiconductor nanostructures using scanning tunneling microscope)
NIMS著者
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作成時刻: 2020-11-20 10:41:04 +0900更新時刻: 2020-11-20 10:41:04 +0900