HOME > Books > Detail（放射光を用いた）X線反射率法木村滋, 坂田 修身. 薄膜の評価技術ハンドブック 150-152. 2013.NIMS author(s)Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 05:17:25 +0900Updated at: 2018-05-30 19:38:44 +0900
