| 109件の論文が見つかりました。論文は出版年月日順に表示しています。（ヘルプ） | |
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| YOSHIKAWA, Hideki, KIMURA, Masahiro, Vlaicu Aurel Mihai, 田中彰博, 藤方潤一, 大橋啓之, FUKUSHIMA, Sei. Glancing Incident XPS Mesumerment of Multilayers using Synchrotron Radiation. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. 1 (2003) 303-308 | |
| 木村 隆, 西田 憲二, 田沼 繁夫, 山田浩之. フィールド・エミッション電子銃を搭載した高分解能EPMAの開発. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2002) | |
| 粟根 徹, 木村 隆, 鈴木仁, 西田 憲二, 貝瀬 正次, 小川 一行, 石川 信博, 田沼 繁夫. 斜出射EPMA法によるステンレス鋼中の介在物の分析. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2002) 171-177 | |
| 安福秀幸. Development of X-ray Photo-emission electron microscopy (XPEEM) at SPring-8 BL15XU. JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS. (2002) | |
| Santanu Bera, Thi Thi Lay, Michiko Yoshitake. Surface segregation of substrate Al in the Cr/Al/Al system. Journal of Surface Analysis. 9 [3] (2002) 392-395 10.1384/jsa.9.392 | |
| Tohru Awane, Takashi Kimura, Jin Suzuki, Kenji Nishida, 石川 信博, 田沼 繁夫, 粟根 徹, 木村 隆, 鈴木仁, 西田 憲二, 石川 信博, 田沼 繁夫. 斜出射EPMA法によるステンレス鋼中の介在物の分析. Journal of Surface Analysis. 9 [2] (2002) 171-177 | |
| 柳生 進二郎, 吉武 道子. 走査型トンネル電子顕微鏡によるナノスケール“仕事関数”の電圧依存性の測定. Journal of Surface Analysis. 9 [4] (2002) 488-500 10.1384/jsa.9.488 | |
| D. Fujita, K. Ishige, T. Ohgi. Charging Effects in Gold Nanoclusters Grown on Octanedithiol Self-Assembled Monolayers Observed by Scanning Tunneling Microscopy. Journal of Surface Analysis. 9 [3] (2002) 365-369 10.1384/jsa.9.365 | |
| N. Fukumoto, S. Tanuma, A. Tanaka, I. Kojima, K. Dohmae, SASJ XPS Transmission Project. A Round Robin Test on XPS Transmission Function. Journal of Surface Analysis. 9 [4] (2002) 524-526 10.1384/jsa.9.524 | |
| 田沼 繁夫, A. Aso, A. Koizumi, M. Suzuki, H. Tohma, S. Hashimoto, K. Miura. X線光電子分光法における有機化合物のX線照射試料損傷評価法の開発. Journal of Surface Analysis. 9 [4] (2002) 501-509 10.1384/jsa.9.501 | |
