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著者名Toyohiko Kinoshita, Eiji Ikenaga, Jungjin Kim, Shigenori Ueda, Masaaki Kobata, James R. Harries, Kenya Shimada, Akihiro Ino, Kenji Tamasaku, Yoshinori Nishino, Tetsuya Ishikawa, Keisuke Kobayashi, Wolfgang Drube, Christof Kunz.
タイトルHow is it possible to obtain buried interface information through very thick films using a hard-X-ray PEEM?
掲載誌名Surface Science 601 20 4754 4757
ISSN: 00396028
発表年
言語English
DOI10.1016/j.susc.2007.05.043
ESIでのカテゴリPHYSICS
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