HOME > 論文 > 書誌詳細Excitation Light Source Profile in XPS Spectra Measured by The Synchrotron Radiation(放射光利用XPSにおける励起光源プロファイル)ブライク・アウレル・ミハイ, 田中彰博, YOSHIKAWA, Hideki, 木田義輝, 渡邊勝巳, 木村昌弘, 二澤宏司, 八木信弘, 奥井眞人, 田口雅美, 大岩烈, FUKUSHIMA, Sei, ブライク・アウレル・ミハイ, 田中彰博, 木田義輝, 渡邊勝巳, 木村昌弘, 二澤宏司, 八木信弘, 奥井眞人, 田口雅美, 大岩烈. Journal of Surface Analysis . .NIMS著者吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-15 00:40:23 +0900更新時刻: 2022-11-15 00:40:23 +0900