Excitation Light Source Profile in XPS Spectra Measured by The Synchrotron Radiation

ブライク・アウレル・ミハイ; 田中彰博; YOSHIKAWA, Hideki; 木田義輝; 渡邊勝巳; 木村昌弘; 二澤宏司; 八木信弘; 奥井眞人; 田口雅美; 大岩烈; FUKUSHIMA, Sei; ブライク・アウレル・ミハイ; 田中彰博; 木田義輝; 渡邊勝巳; 木村昌弘; 二澤宏司; 八木信弘; 奥井眞人; 田口雅美; 大岩烈; ブライク・アウレル・ミハイ; 田中彰博; YOSHIKAWA, Hideki; 木田義輝; 渡邊勝巳; 木村昌弘; 二澤宏司; 八木信弘; 奥井眞人; 田口雅美; 大岩烈; FUKUSHIMA, Sei; ブライク・アウレル・ミハイ; 田中彰博; 木田義輝; 渡邊勝巳; 木村昌弘; 二澤宏司; 八木信弘; 奥井眞人; 田口雅美; 大岩烈

Excitation Light Source Profile in XPS Spectra Measured by The Synchrotron Radiation
(放射光利用XPSにおける励起光源プロファイル)

ブライク・アウレル・ミハイ, 田中彰博, YOSHIKAWA, Hideki, 木田義輝, 渡邊勝巳, 木村昌弘, 二澤宏司, 八木信弘, 奥井眞人, 田口雅美, 大岩烈, FUKUSHIMA, Sei, ブライク・アウレル・ミハイ, 田中彰博, 木田義輝, 渡邊勝巳, 木村昌弘, 二澤宏司, 八木信弘, 奥井眞人, 田口雅美, 大岩烈.

Journal of Surface Analysis . .

NIMS author(s)

YOSHIKAWA, Hideki

Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)

Created at: 2022-11-15 00:40:23 +0900Updated at: 2022-11-15 00:40:23 +0900

Excitation Light Source Profile in XPS Spectra Measured by The Synchrotron Radiation(放射光利用XPSにおける励起光源プロファイル)

NIMS author(s)

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Excitation Light Source Profile in XPS Spectra Measured by The Synchrotron Radiation
(放射光利用XPSにおける励起光源プロファイル)