研究者
吉川 英樹

ホーム > NIMSについて > 研究者 > 吉川 英樹
プロフィール
Portrait
吉川 英樹 (ヨシカワ ヒデキ)
物質・材料研究機構   先端材料解析研究拠点 極限計測分野 表面化学分析グループ   グループリーダー
メール: YOSHIKAWA.Hidekinims.go.jp
電話: 029-859-2451
茨城県つくば市千現1-2-1 [交通アクセス]
研究者紹介冊子版
printImage
併任先
情報統合型物質・材料研究拠点 データプラットフォーム データベースグループ 主席研究員
技術開発・共用部門 材料分析ステーション 主席研究員
研究分野
キーワード 光電子分光、ナノ薄膜、断層解析、放射光、SPring-8
出版物 2004年以降のNIMS所属における出版物を表示しています。
研究論文
  • H. Amekura, M. Tanaka, Y. Katsuya, H. Yoshikawa, H. Shinotsuka, S. Tanuma, M. Ohnuma, Y. Matsushita, K. Kobayashi, C.. Buchal, S. Mantl and N. Kishimoto : “Melting of Zn nanoparticles embedded in SiO[sub 2] at high temperatures: Effects on surface plasmon resonances” Appl. Phys. Lett. 96[2] (2010) 023110-1 DOI:10.1063/1.3290984
  • N. Tsud, T. Skála, K. Mašek, P. Hanyš, M. Takahashi, H. Suga, T. Mori, H. Yoshikawa, M. Yoshitake and K. Kobayashi : “Photoemission study of the tin doped cerium oxide thin films prepared by RF magnetron sputtering” Thin Solid Films 518[8] (2010) 2206-2209 DOI:10.1016/j.tsf.2009.07.128
  • J. Barth, G. H. Fecher, B. Balke, S. Ouardi, T. Graf, C. Felser, P. Klaer, H. J. Elmers, H. Yoshikawa, S. Ueda and K. Kobayashi : “Itinerant half-metallic ferromagnets Co_{2}TiZ (Z=Si  Ge  Sn) : Ab initio calculations and measurement of the electronic structure and transport properties” Phys. Rev. B 81[6] (2010) 064404-1 DOI:10.1103/PhysRevB.81.064404
全情報を表示...
会議録
  • Z. Liu, H. Ishigaki, S. Ito, T. Ide, M. Makabe, M. Wilde, Katsuyuki Fukutani, M. Kimura, V. Aurel, H. Yoshikawa : “CORRELATION OF ELECTRICAL PROPERTIES WITH INTERFACE STRUCTURES OF CVD OXIDE-BASED OXYNITRIDE TUNNEL DIELECTRICS” IEEE INTERNATIONAL INTEGRATED RELIABILITY WORKSHOP 2009 Proceedings of the IEEE INTERNATIONAL INTEGRATED RELIABILITY WORKSHOP (2009 IIRW FINAL REPORT) (2010) 145-146
  • H. Jin, H. Yoshikawa, S. Tanuma, S. Tougaard : “Determination of optical constants of Si and SiO2 from reflection electron energy loss spectra using factor analysis method ener” ECASIA'09 SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 42[6-7] (2010) 1076-1081
  • Y. Yamashita, Ohmori K, S. Ueda, H. Yoshikawa, T. Chikyo, K. Kobayashi : “Bias-application in Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy for Characterization of Advanced Materials” ALC'09 e-JOURNAL OF SURFACE SCIENCE AND NANOTECHNOLOGY 8 (2010) 81-83
全情報を表示...
口頭発表
  • 2010/03/20-23 : 三村功次郎, 魚住孝幸, 石津貴彦, 本並哲, 佐藤仁, 内海有希, 上田茂典, 光田暁弘, 島田賢也, 田口幸広, 山下良之, 吉川英樹, 生天目博文, 谷口雅樹, 小林啓介 : “価数転移を示すEuPd2Si2の硬X線光電子スペクトルの温度依存性” 日本物理学会 第65回年次大会
  • 2010/03/20-23 : 内海有希, 佐藤仁, 飛松浩明, 間曽寛之, 平岡耕一, 小島健一, 三村功次郎, 上田茂典, 山下良之, 吉川英樹, 小林啓介, 島田賢也, 生天目博文, 谷口雅樹 : “硬X線光電子分光によるYbXCu4(X=Cd In Sn)の電子状態の研究” 日本物理学会 第65回年次大会
  • 2010/03/20-23 : 今村真幸, 中村純, 藤正修司, 保田英洋, 上田茂典, 山下良之, 吉川英樹, 小林啓介 : “有機分子保護Siナノクラスターにおける発光と電子構造の相関” 日本物理学会 第65回年次大会
全情報を表示...
特許
  • 特開2010-232500号 “固有ジョセフソントンネルデバイスの簡易作製法” (2010)
全情報を表示...
外部参照
ResearcherID.COM (No.H-2711-2011)
研究者