研究者
大西 桂子

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プロフィール
Last Update : 2015/09/28
Portrait
大西 桂子 (オオニシ ケイコ)
物質・材料研究機構   先端材料解析研究拠点 極限計測分野 表面物性計測グループ   研究員
メール: ONISHI.Keikonims.go.jp
電話: 029-859-2740
茨城県つくば市千現1-2-1 [交通アクセス]
研究者紹介冊子版
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併任先
技術開発・共用部門 微細加工プラットフォーム 研究員
情報統合型物質・材料研究拠点 データプラットフォーム データベースグループ 研究員
研究分野
キーワード ナノ材料 薄膜・表面界面物性
出版物 2004年以降のNIMS所属における出版物を表示しています。
研究論文
  • 大西桂子 : “走査型ヘリウムイオン顕微鏡による先端ナノマテリアル評価技術の開発と共用” 顕微鏡 48[3] (2013) 154-158
  • 大西桂子 : “国内初、「共用」ヘリウムイオン顕微鏡とは” 高分子 62[11] (2013) 681-682
  • K. ONISHI and D. FUJITA : “Novel Tip Shape Reconstruction Method for Restoration of AFM Topography Images Using Nano-structures with Given Shapes” Anal. Sci. 27[2] (2011) 157-161 DOI:10.2116/analsci.27.157
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会議録
  • K. Ishige, D. Fujita : “AFM像探針形状効果補正のための標準ナノ粒子法とブラインド法の比較” 第50回真空に関する連合講演会 Journal of the Vacuum Society of Japan 53[5] (2010) 357-360
  • K. Ishige, D. Fujita : “SiO2薄膜の電子線照射支援スパッタリングのリソグラフィへの応用” 第47回 真空に関する連合講演会 真空 50[3] (2007) 202-204
  • D. Fujita, K. Sagisaka, K. Ishige, S. Yukihiro, T. Ohgi : “EXPLORATION OF NANO FUNCTIONALITY WITH EXTREME FIELD SCANNING TUNNELING MICROSCOPY” 10th International Symposium on Advanced Physical Fields Proceedings of APF10 (2005) 19-26
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口頭発表
  • 2013/01/08 : 大西桂子, GUOHongxuan, 永野聖子, 藤田大介 : “走査型ヘリウムイオン顕微鏡による絶縁体微細構造解析” 第22回インテリジェント材料/システム シンポジウム
  • 2012/11/20-22 : 大西桂子, 岩崎多摩樹, 藤田大介 : “ISO標準データ転送フォーマットに基づくSPMデータ処理プログラムの開発” 第32回表面科学学術講演会
  • 2012/11/14-16 : 大西桂子, GUOHongxuan, 永野聖子, 藤田大介 : “走査型ヘリウムイオン顕微鏡による微細構造解析” 第53回真空に関する連合講演会
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特許
  • 特許第4431733号 “超高真空走査型プローブ顕微鏡” (2010)
  • 特許第3686948号 “自己再生型カーボンナノチューブ・グラファイト混合膜の形成方法” (2005)
  • 特開2010-089996号 “グラフェン被覆部材とその製造方法。” (2010)
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外部参照
ResearcherID.COM (No.F-2058-2010)
その他
所属学会 応用物理学会 日本表面科学会
研究者