研究者
荻原 俊弥

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プロフィール
Portrait
荻原 俊弥 (オギワラ トシヤ)
物質・材料研究機構   技術開発・共用部門 材料分析ステーション 表面・微小領域分析グループ   主幹エンジニア
メール: OGIWARA.Toshiyanims.go.jp
電話: 029-859-2658
茨城県つくば市千現1-2-1 [交通アクセス]
併任先
技術開発・共用部門 材料分析ステーション 主幹エンジニア
出版物 2004年以降のNIMS所属における出版物を表示しています。
研究論文
  • M. Shimoda, T. Konishi, K. Tateishi, T. Toujyou, S. Tsukamoto, N. Nishiwaki, M. Arisawa, N. Hoshiya, S. Shuto, N. Isomura, H. Yokota, Y. Furukawa, K. Iizuka, T. Ogiwara, Y. Isozaki, Y. Yamashita, H. Yoshikawa, S. Ueda and K. Kobayashi : “Hard x-ray photoemission spectroscopic investigation of palladium catalysts immobilized on a GaAs(001) surface” J. Appl. Phys. 108[2] (2010) 024309-1 DOI:10.1063/1.3456507
  • 福島整, 荻原俊弥, 木村隆, 田沼繁夫 : “超軟X線分光におけるLi Kα強度への化学状態の影響” JOURNAL OF THE SURFACE SCIENCE SOCIETY OF JAPAN 30[7] (2009) 391-396
  • S. ITOH, N. OGURO, T. OGIWARA and T. KOBAYASHI : “Analysis of Strontium Titanate by Helium Glow-Discharge Mass Spectrometry Using Dummy Cathode” Bunseki Kagaku 56[10] (2007) 871-877 DOI:10.2116/bunsekikagaku.56.871
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会議録
  • T. Ogiwara, S. Tanuma : “Auger Depth Profiling Analysis Using a inclined Holder” International workshop for surface analysis and standardization JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS 15[3] (2009) 246-248
  • H. Yoshikawa, H. Tanaka, M. Kimura, T. Ogiwara, T. Kimura, S. Fukushima, K. Kamagai, S. Tanuma, M. Suzuki, K. Kobayashi : “Evaluation of Depth Distribution Function for AR-XPS using Synchrotron Radiation Hard X-ray” iSAS-09 JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS 15[3] (2009) 254-258
  • S. Fukushima, T. Ogiwara, T. Kimura, K. Tsukamoto, T. Tazawa, S. Tanuma : “Theoretical Study about Si L23 Spectra with The Cluster Calculation” Microscopy & Microanalysis 2007 Meeting MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 13[Suppl2] (2008) 1446-1447
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口頭発表
  • 2010/10/03-07 : S. Fukushima, Y. Yamauchi, A. Tanaka, K. Watanabe, T. Ogiwara, M. Suzuki, K. Goto : “The Preliminary Experimental Evaluation of The Signal Dispersion ; AES” 5th International Symposium on Practical Surface Analysis
  • 2010/10/03-07 : H. T, T. Ogiwara, T. N, Y. T, K. J. Kim, S. Tanuma : “High-sensitive depth profiling of delta-doped layers by glancing angle irradiation and detection” International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10)
  • 2010/10/03-07 : T. Ogiwara, T. N, K. J. Kim, S. Tanuma : “High Depth Resolution Auger Depth Profiling using a 85°-High-Angle Inclined Holder” International Symposium on Practical Surface Analysis (PSA-10)
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外部参照
ResearcherID.COM (No.H-2578-2011)
研究者