研究者
三石 和貴

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プロフィール
Last Update : 2011/05/12
Portrait
三石 和貴 (ミツイシ カズタカ)
物質・材料研究機構   先端材料解析研究拠点 原子構造物性分野 実働環境計測技術開発グループ   グループリーダー
メール: MITSUISHI.Kazutakanims.go.jp
電話: 029-863-5474
茨城県つくば市千現1-2-1 [交通アクセス]
研究者紹介冊子版
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併任先
技術開発・共用部門 電子顕微鏡ステーション ナノ構造解析グループ 主席研究員
エネルギー・環境材料研究拠点-ナノ材料科学環境拠点 計測分野 GREENコーディネーター
技術開発・共用部門 微細構造解析プラットフォーム 主席研究員
エネルギー・環境材料研究拠点-ナノ材料科学環境拠点 全固体電池特別推進チーム 主席研究員
外部連携部門 NIMSオープンイノベーションセンター 電池材料オープンラボ 役職未定
エネルギー・環境材料研究拠点-ナノ材料科学環境拠点 計測分野 材料界面動的観察グループ GREENリーダー
技術開発・共用部門 窒化ガリウム評価基盤領域 最先端電顕グループ グループ長
研究分野
研究概要 共焦点電子顕微鏡の結像特性の研究、電子線勇気蒸着によるナノ構造の作製と物性評価
キーワード 電子顕微鏡技術、ナノ構造科学 応用物性・結晶工学 無機材料・物性
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GaN試料からの収束電子線回折像とシミュレーション像。 シミュレーションとの比較により、GaN試料の極性や厚みを容易に決定することができる。
出版物 2004年以降のNIMS所属における出版物を表示しています。
研究論文
  • I. Sychugov, Y. Nakayama and K. Mitsuishi : “Manifold enhancement of electron beam induced deposition rate at grazing incidence” Nanotechnology 21[2] (2010) 025303-1 DOI:10.1088/0957-4484/21/2/025303
  • A. Hashimoto, M. Shimojo, K. Mitsuishi and M. Takeguchi : “Three-Dimensional Optical Sectioning by Scanning Confocal Electron Microscopy with a Stage-Scanning System” Microsc. microanal. 16[3] (2010) 233-238 DOI:10.1017/S1431927610000127
  • P. Wang, G. Behan, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, M. Shimojo, A. I. Kirkland and P. D. Nellist : “Nanoscale Energy-Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double-Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope” Phys. Rev. Lett. 104[20] (2010) 200801-1 DOI:10.1103/PhysRevLett.104.200801
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書籍
  • K. Mitsuishi : “Monte Carlo Method in FEBID Process Simulations (chapter8)” Nanofaburication Using Focused Ion and Electron Beams (2012)
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会議録
  • A. Hashimoto, P. Wang, M. Shimojo, K. Mitsuishi, A. I.Kirkland, P. D.Nellist, M. Takeguchi : “Three-Dimensional Analysis of Nanoparticles using Annular Dark-Field Scanning Confocal Electron Microscopy Established in a Doub” The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theor AMTC Letters 2 (2010) 114-115
  • A. Hashimoto, P. Wang, M. Shimojo, K. Mitsuishi, A. I.Kirkland, P.D. Nellist, M. Takeguchi : “Establishment of Annular Dark-Field Scanning Confocal Electron Microscopy using a Double Aberration-Corrected Microscope” Microscopy & Microanalysis 2010 Meeting MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 16[Suppl. 2] (2010) 1888-1889 DOI:10.1017/S1431927610058022
  • X. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, M. Shimojo : “Deconvolution method used in improving the depth resolution of three-dimensional images taken by scanning confocal electron Microscopy” Microscopy & Microanalysis 2010 Meeting MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 16[Suppl. 2] (2010) 290-291 DOI:10.1017/S1431927610053870
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口頭発表
  • 2010/08/23 : 三石和貴 : “STEM像の計算手法の基礎” 電顕技術開発若手研究部会 第2回ワークショップ
  • 2010/05/23-26 : 三石和貴, 橋本綾子, 下条雅幸, 竹口雅樹, 石塚和夫 : “共焦点暗視野電子顕微鏡法の結像特性” 日本顕微鏡学会66回学術講演会
  • 2009/10/30-31 : 三石和貴, 橋本綾子, 竹口雅樹, 下条雅幸, 石塚 和夫 : “共焦点走査透過電子顕微鏡法による3次元観察の可能性” 日本顕微鏡学会第53回シンポジウム
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特許 全情報を表示...
外部参照
ResearcherID.COM (No.H-2627-2011)
その他
受賞歴 日本顕微鏡学会「論文賞(顕微鏡基礎部門)(2010),日本顕微鏡学会 第7回奨励賞(2006),アメリカ材料学会秋季大会最優秀ポスター賞(1997) 
所属学会 日本金属学会 日本電子顕微鏡学会 日本物理学会
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