研究者
岩井 秀夫

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プロフィール
Portrait
岩井 秀夫 (イワイ ヒデオ)
物質・材料研究機構   技術開発・共用部門 材料分析ステーション 表面・微小領域分析グループ   グループリーダー
メール: IWAI.Hideonims.go.jp
電話: 029-859-2427
茨城県つくば市千現1-2-1 [交通アクセス]
併任先
技術開発・共用部門 微細構造解析プラットフォーム プラットフォーム長
技術開発・共用部門 微細構造解析プラットフォーム 主席エンジニア
技術開発・共用部門 窒化ガリウム評価基盤領域 微量分析グループ 役職未定
出版物 2004年以降のNIMS所属における出版物を表示しています。
研究論文
  • M. Kobata, I. Pis, H. Iwai, H. Yamazui, H. Takahashi, M. Suzuki, H. Matsuda, H. Daimon, K. Kobayashi : “Development of the Hard-X-ray Angle Resolved X-ray Photoemission Spectrometer for Laboratory use” Anal. Sci. 26[2] (2010) 227-232 DOI:10.2116/analsci.26.227
  • Q. Li, B. Yue, H. Iwai, T. Kako and J. Ye : “Carbon Nitride Polymers Sensitized with N-Doped Tantalic Acid for Visible Light-Induced Photocatalytic Hydrogen Evolution” J. Phys. Chem. C 114[9] (2010) 4100-4105 DOI:10.1021/jp911803z
  • H. Jin, H. Shinotsuka, H. Yoshikawa, H. Iwai, S. Tanuma and S. Tougaard : “Measurement of optical constants of Si and SiO[sub 2] from reflection electron energy loss spectra using factor analysis method” J. Appl. Phys. 107[8] (2010) 083709-1 DOI:10.1063/1.3346345
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会議録
  • Y. Kaneno, H. Tsuda, Y. Xu, M. Demura, T. Hirano, H. Iwai, T. Takasugi : “Spontaneous Catalytic Activation of Ni3(SiTi) Intermetallic Foils in” 2008 MRS Fall Meeting Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1128 (2009) U05-33
  • H. Jin, H. Yoshikawa, H. Iwai, S. Tanuma, S. Tougaard : “Inelastic scattering cross section of Si from angular dependent reflection electron energy loss spectra” iSAS-09 JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS 15[3] (2009) 321-324
  • H. Iwai, JSH, S. Tanuma : “Recent Status of Thin Film Analyses by XPS” iSAS-09 JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS 15[3] (2009) 264-270
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口頭発表
  • 2010/11/04-06 : 吉川英樹, 金華, 田中肇, 篠塚寛志, 岩井秀夫, 新井正男, 田沼繁夫 : “反射電子エネルギー損失分光スペクトル解析への因子分析の応用 -Si SiO2 GaAsのエネルギー損失関数の導出” 第30回表面科学学術講演会・第51回真空に関する連合講演会
  • 2010/10/03-07 : S. Fukushima, S. Araki, Y. Iijima, N. Ishizu, H. Itoh, M. Iwai, H. Iwai, E. Iwase, T. Morimoto, K. Omura, M. Sato, M. Soma, K. Takahashi, M. Takano, Y. Takeuchi, Y. Tsujimoto, H. Yasufuku, A. Tanaka, K. Goto : “The Round-robin Test of “Evaluation of the Property of Dispersion of Spectral Intensity : XPS”” 5th International Symposium on Practical Surface Analysis
  • 2010/08/23-27 : H. Iwai, M. Kobata, I. Pis, H. Yoshikawa, S. Tanuma, K. Kobayashi, YAMAZUI Hiromichi, TAKAHASHI Hiroaki, KODAMA Minoru, TANAKA Akihiro, SUZUKI Mineharu, IKENAGA Eiji, MACHIDA Masatake, MATSUDA Hiroyuki, DAIMON Hiroshi : “Development of Angle Resolved HXPS Instrument for Laboratory Use” 18th International Vacuum Congress (IVC-18)
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特許
  • No. WO2011122020A1 “X-RAY IRRADIATION DEVICE AND ANALYSIS DEVICE” (2011)
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外部参照
ResearcherID.COM (No.H-2839-2011)
研究者