研究者
福島 整

プロフィール
Portrait
福島 整 (フクシマ セイ)
物質・材料研究機構   先端材料解析研究拠点 極限計測分野 表面化学分析グループ   主席研究員
メール: FUKUSHIMA.Seinims.go.jp
電話: 029-859-2724
茨城県つくば市千現1-2-1 [交通アクセス]
研究者紹介冊子版
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研究分野
キーワード 化学状態、非破壊、X線
出版物 2004年以降のNIMS所属における出版物を表示しています。
研究論文
  • 福島整, 荻原俊弥, 木村隆, 田沼繁夫 : “超軟X線分光におけるLi Kα強度への化学状態の影響” JOURNAL OF THE SURFACE SCIENCE SOCIETY OF JAPAN 30[7] (2009) 391-396
  • M. Suzuki, S. Fukushima and S. Tanuma : “Efficiency of visual peak detection in X-ray photoelectron spectra” Surf. Interface Anal. 40[10] (2008) 1337-1343 DOI:10.1002/sia.2894
  • Yoichiro Furukawa, Y. Nagatsuka, Y. Nagasawa, S. Fukushima, M. Yoshitake, Akihiro Tanaka : “Practical Methods for Detecting Peaks in Auger Electron Spectroscopy and X-Ray Photoelectron Spectroscopy” J. Surf. Anal. 14[3] (2008) 225-242
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書籍
  • 栃尾達紀, 庄司孝, 福島整, 伊藤嘉昭 : “精密状態分析” 新機能微粒子材料の開発とプロセス技術(分担) (2006)
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会議録
  • H. Yoshikawa, H. Tanaka, M. Kimura, T. Ogiwara, T. Kimura, S. Fukushima, K. Kamagai, S. Tanuma, M. Suzuki, K. Kobayashi : “Evaluation of Depth Distribution Function for AR-XPS using Synchrotron Radiation Hard X-ray” iSAS-09 JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS 15[3] (2009) 254-258
  • S. Fukushima, T. Ogiwara, T. Kimura, K. Tsukamoto, T. Tazawa, S. Tanuma : “Theoretical Study about Si L23 Spectra with The Cluster Calculation” Microscopy & Microanalysis 2007 Meeting MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 13[Suppl2] (2008) 1446-1447
  • T. Ogiwara, T. Kimura, S. Fukushima, TSUKAMOTO Kazunori, TAZAWA Toyohiko, S. Tanuma : “Analysis of ultra-light elements with a newly developed ultra soft x-ray spectrometer for electron probe microanalysis.” European Microbeam Analysis Society 2007 MICROCHIMICA ACTA 161[3-4] (2008) 451-454
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口頭発表
  • 2009/11/27 : 福島整 : “特性X線スペクトルによる状態分析 − 標準化を進める上での考え方の提案 −” ISO TC202 国内委員会
  • 2009/11/19-20 : 福島整 : “プロジェクト報告「スペクトル強度分散評価ラウンドロビンテスト」− 第一報” Symposium on Practical Surface Analysis 2009
  • 2009/11/11 : 福島整 : “実用分析としての高分解能蛍光X線分光 ー応用と装置の原理−” 技術講演会
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外部参照
ResearcherID.COM (No.H-2835-2011)
研究者